用于电流检测的厚膜取样电阻,需结合目标阻值、工作电流、允许压降、功耗与测量连接方式核对具体系列。
| FCF-E | Thick Film Low ohm Current Sense Chip Resistor 厚膜晶片電阻-低阻 | | 10m~910mΩ | ±1%,±5% | ±200~±1000 | 1/8 ~ 1W | 0603 ~ 2512 |
用于电流检测的厚膜取样电阻,需结合目标阻值、工作电流、允许压降、功耗与测量连接方式核对具体系列。
| FCF-E | Thick Film Low ohm Current Sense Chip Resistor 厚膜晶片電阻-低阻 | | 10m~910mΩ | ±1%,±5% | ±200~±1000 | 1/8 ~ 1W | 0603 ~ 2512 |
区分器件初始容差、温度漂移与测量回路误差。
结合 I²R 计算工作损耗,再按制造商降额和安装条件核对。
核对两端或四端连接、焊盘和测量取点。
具体规格、测试条件与订货选项,请以对应品牌、系列和完整型号的制造商文件为准。
还需核对精度、温度系数、额定功率、工作电压、脉冲、封装和可靠性要求,并在实际电路中验证。
测量回路中的导线与接触电阻会影响结果,应核对器件端子、焊盘以及两端或四端测量方式。